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OU3500涂镀层测厚仪

发布时间:2024-12-11 04:36:14 浏览量:31352
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一、概述

沧州欧谱OU3500涂层测厚仪是欧谱公司新研发的新产品,是一种小型便携式仪器,磁性测厚仪也称涂层测厚仪、镀层测厚仪、涂镀层测厚仪。其性能稳定、测量准确、重现性好、经济耐用。产品符合以下标准:
GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法;
GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法;
JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪;
JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》;
JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》;

二、主要特点:

零位稳定:所有涂层测厚仪测量前都要求校准零位,可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零;
仪器零位的稳定是保证测量准确的前提。一台好的测厚仪校零后,可以长时间保持零位不漂移,确保准确测量;
精度高 :本公司产品简单校0后精度即可达到1-2%是目前市场上能达到A级的产品,其精度与稳定性高于国内同类产品;
线性编辑:多数涂层测厚仪除了基础校零外,仪器本身没有线性编辑,使得测量重复性误差大,本仪器出厂加入线性编辑增加测量精度与重复稳定性;
温度补偿:涂覆层厚度的测量受温度影响非常大。同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术,以保证不同温度下的测量精度;
独特的直流采样技术:使得测量重复性较传统交流技术有无可比拟的优越和提高;
可设置限界:对限界外的测量值能自动报警;
具有两种测量方式:连续测量方式和单次测量方式;
探头线:特殊订制可经受几百万次的曲折。


三、适用范围

OU3500镀层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
本仪器广泛地应用在电镀、防腐、航天航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护专业理想的仪器。

四、主要技术指标

型号
OU3500-F
OU3500-N
OU3500-FN
测定对象
磁性金属上非磁性涂镀层
非磁性金属上绝缘层
磁性金属上非磁性涂镀层
非磁性金属上绝缘层
测量范围
F1、N1、F1/90型 0~1250um
F10型 0~10000um
测量误差
F1、N1、F1/90-(1-3%H+1);二点校准精度1%
F10-(1-3%H+10) 二点校准精度1%
校准方法
一点校准、二点校准
显示分辨率
0.1μm(测量范围小于100μm)、1μm(测量范围大于100μm)
存储
存储500个数据
工作方式
直接方式和成组方式
测量方式
连续测量和单次测量
关机方式
手动关机和自动关机
统计功能
测量次数、最大值、最小值、平均值
设置限界
对限界外的测量值能自动报警
删除功能
对粗大误差及错误设置可进行删除处理
提示音
音乐铃声
其它功能
电源欠压指示、错误提示
温度补偿
0~50℃
使用环境温度
-10℃~60℃
电源
1.5V×2
外型尺寸
120×65×30mm
重量
300g
标准配置
主机、F型或N型探头、校准片、基体一块、电池、说明书、保修卡、仪器箱


五、探头种类

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F1探头
工作原理: 磁感应
测量范围: 0-1250um
分辨力: 100um以下0.1um
  100um以上1um
示值误差: 1.一点校准:±(1-3%H+1)um
  2.两点校准:±(1%H+1)um
测量条件: 1.最小曲率半径:凸1.5mm
  2.基体最小面积的直径:Ф7mm
  3.最小临界厚度:0.5mm
探头尺寸: Ф12×47mm
N1探头
工作原理: 电涡流
测量范围: 0-1250um
分辨力: 100um以下0.1um
  100um以上1um
示值误差: 1.一点校准:±(1-3%H+1)um
  2.两点校准:±(1%H+1)um
测量条件: 1.最小曲率半径:凸3mm
  2.基体最小面积的直径:Ф5mm
  3.最小临界厚度:0.3mm
探头尺寸: Ф15×73mm
ou7-400.jpg
ou7-401.jpg
F10探头
工作原理: 磁感应
测量范围: 0-10000um
分辨力: 1000um以下1um
  1000um以上10um
示值误差: 1.一点校准:±(3%H+10)um
  2.两点校准:±(1%H+10)um
测量条件: 1.最小曲率半径:凸10mm
  2.基体最小面积的直径:Ф40mm
  3.最小临界厚度:2mm
探头尺寸: Ф27×47mm
F1/90探头
工作原理: 磁感应
测量范围: 0-1250um
分辨力: 1000um以下1um
  1000um以上10um
示值误差: 1.一点校准:±(1-3%H+1)um
  2.两点校准:±(1%H+1)um
测量条件: 1.最小曲率半径:平直
  2.基体最小面积的直径:Ф7mm
  3.最小临界厚度:0.5mm
探头尺寸: Ф7.5×11×200mm

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